一、两路方波的软件四细分辨向（论文文献综述）
王森[1]（2021）在《大长度比对测量装置关键技术的研究》文中研究表明随着科技的不断发展,工业测量的内容和手段不断发生变化,各种大长度测量仪器不断出现。这些测量仪器的测量精度指标是由仪器厂家根据仪器特性,以及仪器在标准实验室环境下测试后所得到的,是为用户提供的仪器的测量性能的参考指标。在实际应用中,仪器的测量精度会受到运输、测量环境以及测量人员的影响。因此,研制大长度比对测量装置,满足大尺寸测量仪器的溯源需求。论文根据光电测距仪的检定规程和激光跟踪仪的校准规范,在总结大长度比对测量装置的技术要求后,设计了大长度比对测量装置的总体方案和布局。大长度比对测量装置主要包括55米测量运动系统、激光干涉仪测量系统和自动控制系统。激光干涉仪作为大长度比对测量装置的核心器件,其多依赖于进口,缺少自主研发的国产激光干涉仪。进口的激光干涉仪采用USB传输方式,数据刷新、延迟比较大。因此,针对对激光干涉信号高动态响应数据采集的要求,设计了基于复杂可编程逻辑器件（CPLD）的四细分采集卡,并进行了重复性实验验证。直线导轨作为大长度比对测量装置的高精度基础部件,当其存在较大的直线度误差时,会使测量棱镜偏转,产生附加光程差,直接影响装置整体精度。因此,利用激光跟踪仪对55米直线导轨进行了直线度误差测量和调校。经过反复测量、调校后,最终直线导轨水平方向直线度为0.572mm,垂直方向直线度为0.705mm,保证了导轨高直线度要求。进行了采集卡比对测量实验,在55米测量范围内采集卡测量标准差为±0.83μm。进行了测距仪示值误差比对测量实验,实验结果表明,测量标准差为±2.97μm,比对测量示值误差|δ|max=6.6μm,小于标定的|MPE|,满足规范要求。进行了跟踪仪示值误差比对测量实验,实验结果证实该系统满足规范要求。大长度比对测量装置是一种通用的计量校准设备,可实现大长度内高精度直线位移测量,具有广泛的应用前景。
黄巧银[2]（2021）在《火炮药室参数测量技术的研究》文中指出火炮药室参数是影响火炮性能的一个重要指标,精确的药室参数能够保证弹丸在药室内获得所需要的初速度和射击方向,直接影响着火炮的射击精度、射击准确性和射击安全性等作战效能评估指标。因此,对火炮药室参数的变化状况进行精密的测量是必不可少的步骤。但是由于火炮药室属于变径的多段组合锥形深管,管内径变化范围大,管体较长,椎体间有拐点,以及测量仪器受传感器技术限制等因素,使得火炮药室参数智能化测量难度较大,也是目前国内军工业的一个难题。本文在对火炮药室静态参数的测量原理和测量系统的结构及工作原理进行研究的基础上,利用激光位移智能传感技术、激光测量头非定心测径技术、电机驱动控制技术、增量式光栅尺位移测量技术及线阵CCD驱动和（Improved Adaptive Genetic Algorithm,IAGA）像点定位技术、信号采集、传输与处理技术,设计研究出了一套自动测量火炮药室参数的智能测量系统。解决了国内对药室参数测量仍通过手工推动测量结构和接触式测量的现状。本文的测量方法原理简单,充分发挥光电检测技术和智能传感器在测量技术上的应用优势,并且适用于不同型号、多种口径药室参数的测量。实验结果表明,火炮药室参数测量系统性能稳定,测量精度高,轴向进深和径向位移测量精度均小于0.1mm,药室体积测量的相对误差为0.296%,达到了系统设计的指标要求。
刘保帅[3]（2018）在《基于正交衍射光栅的三维位移传感器的理论研究》文中认为工业生产技术和生产水平的高速发展,尤其是航空航天测控技术,MEMS制造技术,纳米加工技术等技术的发展和应用,对精密位移测量技术提出了越来越高的要求,推动了精密位移测量技术朝着大量程,多维度和高速度的方向发展。本文将对基于正交衍射光栅的三维位移传感器进行理论研究,解决测量光栅的跟踪速度和细分倍数之间的矛盾,扩展位移测量的维度,实现对XYZ三个方向位移量的测量。本文的主要工作包括1.在对一维光栅、二维光栅的衍射特性和光栅位移测量理论分析的基础上,对传统的基于正交衍射光栅的位移传感器进行改进,采用栅距为1um的二维正交测量光栅和二维正交参考光栅搭建光路,通过对±1级次衍射条纹的检测,实现了XYZ三个方向上位移量的测量。在光路设计中,设计了基于反射镜的分光光路,减少了光束的能量损失,提高了信噪比。使用ZEMAX软件对光路测量原理和分光光路的功能进行了仿真验证。光路结构中,采用光栅的自准直结构对Z轴向的位移量程进行了扩展。2.设计了基于USB总线的信号处理方案。方案中,采用STM32F407作为主控单元,并对干涉条纹的整周期变化数进行计数;对不满一个周期的相位变化,采用软件细分的方法求解。采用正切量化查表细分方法,实现了200倍的细分,克服了信号幅值波动对细分精度的影响。3.在信号处理方案中,在位移辨相和计数电路中,摒弃了传统辨向电路中的积分电路,突破了信号处理电路对测量光栅移动速度的限制。方案中,采用A/D采样电路完成光栅干涉信号的数据采集,而信号的细分和位移量的计算交由PC机处理,减少了下位机的运算量,突破了下位机运算能力有限的瓶颈,并且采用USB3300芯片实现了高速USB传输,提高了测量系统对位移数据的处理速度。4.对信号处理电路的性能进行了测试和分析。对光栅传感器系统的测量误差进行了分析。
高海霞[4]（2016）在《基于光栅莫尔条纹细分技术的精密测量系统的设计》文中进行了进一步梳理光栅莫尔条纹细分技术在的精密测量领域中应用十分广泛,其中幅值分割电子细分技术以其电路简单,成本低等优点成为了较为常用的细分技术。然而,在幅值分割电子细分技术过程中需要解决莫尔条纹信号非线性的问题。较莫尔条纹直接细分,传统的正切法虽在一定程度上减小了非线性误差,但仍不能达到更精密测量的要求。针对这一问题,本文采用了A/D采样重构法来减少非线性误差,以便实现最终精密测量的目的。首先在本文中,借用MATLAB软件分析了传统正切法与新方法的非线性误差,得出本文采用的A/D采样重构方法对减少非线性误差具有一定的优势。然后将本方法应用于实践,进行莫尔条纹的精密测量系统的设计。根据光栅输出莫尔条纹的实际情况,进行了系统的总体设计。通过设计了前端处理电路,滤除原始信号的噪声和干扰。同时,为实现系统在高速测量的条件下完成精密测量,在信号细分方案设计上,采用粗细分、精细分并行处理的方式。另外,在软件设计方面,优化了细分算法,减少处理器处理时间,使系统总体性能得到进一步提高。最后,通过激光干涉仪对本系统进行检验校准,并运用极差法对实验数据进行重复性误差分析。同时,在系统示值误差、分辨力等几个方面对系统进一步误差分析,最终确定本细分系统为合格的精密测量系统。
梁应选,杨明亮,何亚银,丁敏[5]（2015）在《基于单片机的转角测量系统设计》文中研究说明在明确测量任务的前提下,对增量式编码器的工作原理以及对其输出信号四细分处理的方法进行研究,在此基础上利用Proteus仿真软件对旋转编码器原始信号及经过四细分处理信号进行仿真分析,为合理选择硬件电路元器件找到充分的依据。进而构建了以AT89S52单片机为主控单元,增量式编码器为前端传感器,外加中间四细分辨相处理电路,选用LCD液晶显示器显示测量结果,实现信号采集和数据处理的硬件检测系统,所构建的硬件检测系统电路结构简单、成本低。
杜刚[6]（2015）在《基于FPGA的二维电控平移台系统的无线控制》文中提出随着电子技术的迅猛发展,FPGA以其有效减少电子系统的开发风险和开发成本,以及远程在线重构和系统编程技术等优势,在通讯、控制等方面得到了广泛的运用。基于NIOSII的SOPC嵌入式软核技术的提出,使FPGA在使用硬件编程语言外有了更为灵活的编程方式。硬件编程语言与嵌入式软核的结合,让基于FPGA的控制方式更为高效,适用面也更为广泛。电控平移台广泛地应用于光学实验、激光加工等方面,是实验用显微镜等仪器的重要组成部分。本文开发的二维电控平移台系统的控制可以分为无线控制器及二维电控平移台主体两个部分,分别由不同的FPGA芯片实现控制。它涉及到触控屏的显示与信号捕捉、无线通讯模块的控制、步进电机的控制及光栅尺信号的处理等。设计中采用软硬件结合的方式实现整个系统的控制,对其中数据量较大,且对实时性要求高的部分,如步进电机的控制及光栅尺信号的处理等,均采用硬件编程语言VeriolgHDL。其余控制模块采用基于NIOSII的SOPC软核作为控制核心。经测试实验,基于FPGA设计的二维电控平移台无线控制系统能够实现对二维电控平台的无线实时控制及其位移信息获取,
刘洋[7]（2015）在《基于FPGA光栅数据采集卡的设计》文中指出介绍了一种基于现场可编程门阵列器件EPF10K10的光栅数据采集卡。重点讲述了该数据采集卡的总体设计与实现,详细讨论了四倍频细分辨向电路、比较发讯电路及译码电路的设计原理与实现方案,同时给出了电路的仿真波形。通过测试及实际使用证明,该光栅数据采集卡稳定性好,抗干扰能力强,能广泛应用于多种测量仪器上。
吴年祥,陈小林[8]（2013）在《微动台位移检测及伺服控制系统的研究》文中进行了进一步梳理设计一种以微控制器为核心的微动工作台位移检测及伺服控制系统。信号处理电路采集传感器输出的信号,通过将其放大、滤波、细分辨向等处理后转换成脉冲序列送给微控制器,微控制系统通过I/O口发送方向控制信号和脉冲信号驱动步进电机旋转,带动微动台运动,通过在微动台上的光栅位移传感器的同步移动,实现对工作台位移量的检测。
李深德,张向利,陶晗,韦礼凯[9]（2013）在《三维光栅位移测量系统的硬件设计与实现》文中认为为了检测机床刀具的三维位移、实时显示刀具的进刀量,提高工件的加工精度,研究并设计了一种基于光栅位移传感器的高精度三维光栅位移测量系统。分析了光栅位移传感器的测量原理,介绍了该系统的硬件设计,设计了光栅位移信号细分辨向电路、主控电路、显示电路及控制电路,制作了系统电路样板,搭建了实验系统并对系统进行了实验。实验结果表明:硬件电路工作正常,系统运行稳定、测量精准,可满足机床高精度测量的生产需求。
李金艳[10]（2013）在《基于幅值采样技术的光栅信号细分的研究》文中研究表明针对国内计量光栅技术发展不够完善，无法达到高精度、高分辨力及动态测量等要求的问题，本文研究并开发了基于幅值采样技术的光栅信号细分系统，通过对光栅传感器信号幅值采样细分的方法，使系统具有精度高、分辨力高，并具有较快的动态测量响应速度等特点，适应光栅信号细分技术未来的发展方向。本文对光栅传感器信号细分技术进行了系统的研究，总结现有细分技术的系统构成及工作原理，分析并比较目前细分方法的优缺点，以此作为研究基础，改进设计方案，设计高精度高分辨力的细分系统。对电路进行总体的软硬件设计。对光栅原始输出信号的处理上，采取精密电路设计，使噪声和干扰得到进一步滤除；对信号细分方案的设计上，采用粗细分、精细分并行测量的设计方法，使细分精度和细分速度同时提高；在软件设计方面，通过仿真，确认了运用构造新函数的方法，可有效地解决光栅输出信号非线性的问题，降低理论误差；在细分算法上进行优化，减少处理器处理时间，使系统总体性能得到进一步提高。另外，本文通过标准块规对实验数据进行比较、分析与处理，从系统示值误差、分辨力与稳定性、重复性误差等几个方面进行了系统误差分析，并通过线性标定对系统精度进行修正，从而使细分系统的准确性得以优化。
二、两路方波的软件四细分辨向（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、两路方波的软件四细分辨向（论文提纲范文）
（1）大长度比对测量装置关键技术的研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 1 绪论 |
| 1.1 研究背景及意义 |
| 1.2 大尺寸计量及大长度比对测量装置的国内外研究现状 |
| 1.2.1 国外研究现状 |
| 1.2.2 国内研究现状 |
| 1.3 课题主要研究内容 |
| 2 大长度比对测量装置的方案设计 |
| 2.1 光电测距仪的检定规程及检定方法 |
| 2.2 激光跟踪仪的校准规范及校准方法 |
| 2.3 激光跟踪仪测距精度评定方法 |
| 2.3.1 一元线性回归模型 |
| 2.3.2 逻辑回归模型 |
| 2.4 大长度比对测量装置的技术要求 |
| 2.5 大长度比对测量装置的总体方案设计 |
| 2.6 测长标准器的布置 |
| 2.7 本章小结 |
| 3 激光干涉仪采集卡的设计 |
| 3.1 激光干涉仪基本原理 |
| 3.2 采集卡硬件电路设计 |
| 3.3 激光干涉信号细分电路设计 |
| 3.3.1 干涉信号细分方法 |
| 3.3.2 干涉信号细分辨向计数 |
| 3.3.3 细分辩向计数的仿真分析 |
| 3.4 采集卡实验测试 |
| 3.5 本章小结 |
| 4 利用激光跟踪仪测量导轨直线度误差实验 |
| 4.1 导轨直线度对测量精度的影响 |
| 4.2 导轨直线度测量方法 |
| 4.2.1 非激光类直线度测量方法 |
| 4.2.2 激光类直线度测量方法 |
| 4.3 激光跟踪仪测量导轨直线度的基本原理 |
| 4.4 导轨直线度误差评定方法 |
| 4.5 导轨直线度误差测量实验 |
| 4.6 导轨直线度误差分析 |
| 4.7 本章小结 |
| 5 大长度比对测量装置现场实验 |
| 5.1 采集卡示值误差比对测量实验 |
| 5.2 测距仪示值误差比对测量实验 |
| 5.3 激光跟踪仪示值误差比对测量实验 |
| 5.4 本章小结 |
| 6 总结 |
| 6.1 总结 |
| 6.2 展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 附录1 |
| 附录2 |
| 攻读硕士学位期间的科研成果 |
（2）火炮药室参数测量技术的研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 课题研究目的和意义 |
| 1.2 火炮药室参数测量的研究现状 |
| 1.3 论文的主要研究内容及章节安排 |
| 1.3.1 论文主要研究内容 |
| 1.3.2 论文章节安排 |
| 第2章 药室参数测量技术理论研究 |
| 2.1 药室参数测量技术分析对比 |
| 2.2 药室径向激光三角法测量原理 |
| 2.3 线阵CCD工作原理及主要性能指标 |
| 2.4 线阵CCD像点定位算法研究 |
| 2.4.1 质心定位算法 |
| 2.4.2 AGA像点定位 |
| 2.5 药室轴向光栅传感器测量原理 |
| 2.5.1 增量式光栅传感器工作原理 |
| 2.5.2 光栅细分技术 |
| 2.5.3 四倍频辨向细分技术 |
| 2.6 步进电机驱动控制原理 |
| 2.6.1 两相混合式步进电机工作原理 |
| 2.6.2 电机细分控制理论 |
| 2.6.3 SPWM技术 |
| 第3章 药室参数测量系统总体方案设计 |
| 3.1 药室参数测量实现方案 |
| 3.2 药室参数测量系统光学方案设计 |
| 3.3 药室参数测量系统电子学方案设计 |
| 第4章 药室轴向进深测量单元设计与实现 |
| 4.1 电机控制单元方案设计与实现 |
| 4.2 细分驱动控制FPGA逻辑设计与实现 |
| 4.2.1 频率和地址产生模块实现 |
| 4.2.2 数据存储和换相模块实现 |
| 4.2.3 SPWM调制和电流分配模块实现 |
| 4.3 光栅信号处理单元方案设计与实现 |
| 4.4 光栅信号预处理电路设计 |
| 4.5 光栅信号处理FPGA逻辑设计与实现 |
| 第5章 药室径向测量单元设计与实现 |
| 5.1 药室径向测量单元方案设计 |
| 5.2 药室径向测量单元硬件电路设计 |
| 5.2.1 CCD驱动电路设计 |
| 5.2.2 信号调理电路设计 |
| 5.2.3 数据转换接口电路设计 |
| 5.2.4 数据通信接口电路设计 |
| 5.3 药室径向测量单元 FPGA 逻辑设计与实现 |
| 5.3.1 CCD驱动控制与实现 |
| 5.3.2 A/D驱动控制与实现 |
| 5.3.3 异步FIFO数据缓存实现 |
| 5.3.4 数据通信模块实现 |
| 5.4 药室径向测量单元软件处理设计与实现 |
| 5.4.1 径向测量单元数据处理 |
| 5.4.2 IAGA像点定位实现 |
| 5.4.3 算法性能分析 |
| 第6章 数据处理及误差分析 |
| 6.1 数据拟合处理 |
| 6.2 上位机软件设计与实现 |
| 6.3 系统测量结果与误差分析 |
| 总结 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
（3）基于正交衍射光栅的三维位移传感器的理论研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题背景 |
| 1.2 精密位移测量技术概述 |
| 1.3 光栅位移测量系统概述 |
| 1.3.1 光栅的性能指标和制造工艺 |
| 1.3.2 光栅位移测量系统的国内外研究现状 |
| 1.3.3 光栅三维位移测量系统中需解决的问题 |
| 1.4 课题研究主要内容 |
| 第二章 平面光栅位移测量的基本理论 |
| 2.1 光栅衍射特性分析 |
| 2.1.1 一维光栅的衍射特性 |
| 2.1.2 二维光栅的衍射特性 |
| 2.2 光栅位移测量的基本原理 |
| 2.2.1 衍射光干涉测量理论 |
| 2.2.2 光栅的自准直结构 |
| 2.3 光栅信号细分方案 |
| 2.3.1 四细分辨向技术 |
| 2.3.2 电阻链移相细分 |
| 2.3.3 幅值分割细分 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 二维平面光栅测量系统的光路设计 |
| 3.1 传感器测头的光路设计及ZEMAX仿真 |
| 3.1.1 传感器测头的位移解算原理 |
| 3.1.2 ZEMAX软件仿真验证 |
| 3.2 传感器测头元器件的设计 |
| 3.2.1 分光光路的设计 |
| 3.2.2 折光元件的设计 |
| 3.2.3 四通道探测光路 |
| 3.2.4 光电信号检测电路设计 |
| 3.3 本章小结 |
| 第四章 测量系统的信号处理技术 |
| 4.1 信号处理方法的研究 |
| 4.1.1 光栅信号的差动放大和整形 |
| 4.1.2 辨向和计数电路的设计 |
| 4.1.3 细分算法设计 |
| 4.1.4 位移计算公式 |
| 4.2 测量系统的软硬件设计 |
| 4.2.1 基于USB3300 高速USB传输模块设计 |
| 4.2.2 A/D采集模块设计 |
| 4.2.3 测量系统软件设计 |
| 4.3 本章小结 |
| 第五章 光栅位移测量系统性能测试和分析 |
| 5.1 信号处理电路性能测试 |
| 5.1.1 USB高速传输模块速度测试 |
| 5.1.2 A/D采集模块精度测试 |
| 5.1.3 细分倍数测试 |
| 5.2 传感器Z轴向量程分析 |
| 5.3 系统测量误差分析 |
| 5.3.1 光路系统安装误差分析 |
| 5.3.2 信号处理电路引入的误差 |
| 5.3.3 光栅信号的正交误差和幅值误差 |
| 5.3.4 测量环境引入的误差 |
| 5.4 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 总结 |
| 6.2 展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 |
（4）基于光栅莫尔条纹细分技术的精密测量系统的设计（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 课题来源及研究意义 |
| 1.1.1 课题来源 |
| 1.1.2 光栅精密测量的意义 |
| 1.2 光栅莫尔条纹测量技术发展现状 |
| 1.3 光栅莫尔条纹主流细分技术 |
| 1.3.1 四细分技术 |
| 1.3.2 电阻链细分技术 |
| 1.3.3 幅值分割电子细分技术 |
| 1.3.4 锁相倍频细分技术 |
| 1.3.5 CCD细分技术 |
| 1.4 细分方法的比较 |
| 1.5 本文研究的主要内容 |
| 第2章 幅值采样电子细分方法研究 |
| 2.1 光栅莫尔条纹的产生与应用 |
| 2.1.1 光栅莫尔条纹信号的形成原理 |
| 2.1.2 光栅莫尔条纹的测量原理 |
| 2.2 光栅莫尔条纹电子细分概述 |
| 2.3 光栅莫尔条纹的粗细分及辨向 |
| 2.4 光栅莫尔条纹的精细分 |
| 2.5 本章小结 |
| 第3章 光栅莫尔条纹电子细分系统设计 |
| 3.1 细分系统的总体结构设计 |
| 3.2 信号前端处理部分 |
| 3.2.1 隔直电路 |
| 3.2.2 滤波电路 |
| 3.3 信号细分电路 |
| 3.3.1 电压跟随电路 |
| 3.3.2 过零比较电路 |
| 3.3.3 四细分辨向电路 |
| 3.3.4 绝对值电路 |
| 3.3.5 差动放大电路 |
| 3.3.6 A/D采样及运算处理电路 |
| 3.4 系统软件设计 |
| 3.4.1 CPLD管脚设计与应用 |
| 3.4.2 细分系统软件流程图 |
| 3.5 本章小结 |
| 第4章 实验结果与误差分析 |
| 4.1 细分系统的调试与测量 |
| 4.2 数据处理与误差分析 |
| 4.2.1 细分系统理论上的测量精度 |
| 4.2.2 细分系统实际测量结果及分析 |
| 4.2.3 系统示值误差分析 |
| 4.2.4 细分系统总体误差分析 |
| 4.3 本章小结 |
| 结论 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 |
| 致谢 |
（5）基于单片机的转角测量系统设计（论文提纲范文）
| 1 测量系统的组成 |
| 1. 1 光电编码器的选用依据及工作原理 |
| 1. 1. 1 光电编码器的选用依据 |
| 1. 1. 2 光电编码器的工作原理 |
| 1. 2 四细分处理电路的原理及设计 |
| 1. 2. 1 四细分处理电路的原理 |
| 1. 2. 2 Proteus 环境下四细分处理电路的设计及仿真过程 |
| 1. 3 单片机最小系统电路和显示部分电路设计 |
| 2 系统软件设计 |
| 2. 1 主程序流程图 |
| 2. 2 计数器初始化流程图 |
| 2. 3 LCD 显示程序流程图 |
| 3 结 语 |
（6）基于FPGA的二维电控平移台系统的无线控制（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 FPGA的诞生及发展 |
| 1.2 FPGA的未来前景 |
| 1.3 Altera FPGA介绍 |
| 1.4 二维电控平台简介 |
| 1.5无线通讯简介 |
| 1.6 课题简介 |
| 1.7 论文内容介绍 |
| 第2章 FPGA与NIOSII设计基础 |
| 2.1 Verilog HDL及VHDL硬件编程语言 |
| 2.2 HDL语言开发流程 |
| 2.3 NIOSII嵌入式处理器 |
| 2.3.1 NIOSII介绍 |
| 2.3.2 NIOSII处理器的内部结构 |
| 2.3.3 NIOSII处理器的搭建 |
| 第3章 系统结构 |
| 3.1 FPGA选型 |
| 3.2 FPGA外设存储器的选择 |
| 3.3 无线控制器部分 |
| 3.4 二维电控平移台主体部分 |
| 第4章 无线控制器设计 |
| 4.1 SOPC核的搭建 |
| 4.2 SPI总线的NIOSII实现 |
| 4.2.1 SPI总线简介 |
| 4.2.2 NIOSII中SPI核结构 |
| 4.2.3 SPI核的配置 |
| 4.2.4 SPI软件编程模型 |
| 4.3 LCD触控屏控制 |
| 4.3.1 LCD显示控制 |
| 4.3.2 电阻式触控屏控制 |
| 4.4 无线通讯模块控制 |
| 4.5 FLASH控制模块 |
| 4.5.1 EPCS串行配置芯片的控制 |
| 4.5.2 并行FLASH模块的控制 |
| 4.6 SDRAM控制模块 |
| 4.7 无线控制器系统控制总结 |
| 第5章 二维电控平移台系统设计 |
| 5.1 二维电控平移台系统介绍 |
| 5.2 二维电控平移台系统的控制核 |
| 5.3 电控二维平移台系统控制 |
| 5.3.1 电控二维平移台系统介绍 |
| 5.3.2 步进电机控制原理 |
| 5.3.3 步进电机驱动器 |
| 5.3.4 步进电机控制模块 |
| 5.3.5 光栅尺信号处理模块 |
| 5.3.6 光栅尺信号细分辨向模块 |
| 5.4 电控二维平移台系统控制总结 |
| 第6章 系统测试 |
| 6.1 无线控制器 |
| 6.2 二维电控平移台控制 |
| 6.3 测试实验 |
| 第7章 总结与展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 |
（7）基于FPGA光栅数据采集卡的设计（论文提纲范文）
| 1 引言 |
| 2 光栅传感器信号及数据采集卡设计要求 |
| 3 电路设计 |
| 3.1 信号接收电路 |
| 3.2 光栅信号细分辨向电路 |
| 3.3 脉冲计数电路 |
| 3.4 锁存接口电路 |
| 3.5 比较发讯电路 |
| 3.6 地址译码电路 |
| 4 结语 |
（8）微动台位移检测及伺服控制系统的研究（论文提纲范文）
| 1 系统总体设计 |
| 2 系统硬件电路设计 |
| 2.1 微控制系统设计 |
| 2.2 光栅信号采集及处理电路 |
| 2.2.1 光栅位移传感器的原理与选型 |
| 2.2.2 光栅采集及处理电路 |
| 2.2.3 细分辨向电路 |
| 2.3 步进电机驱动 |
| 3 软件程序设计 |
| 3.1 总体设计 |
| 3.2 键盘/显示子程序的设计 |
| 4 实验测试与结果分析 |
| 4.1 驱动频率与位移的关系 |
| 4.2 平均步距与频率的关系 |
| 5 结语 |
（10）基于幅值采样技术的光栅信号细分的研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 课题背景及研究意义 |
| 1.1.1 课题研究背景 |
| 1.1.2 光栅信号细分的意义 |
| 1.1.3 光栅信号细分的技术指标 |
| 1.2 光栅莫尔条纹细分技术研究概况 |
| 1.2.1 国外光栅细分技术研究概况 |
| 1.2.2 国内光栅细分技术研究概况 |
| 1.3 本文研究的主要内容 |
| 第2章 光栅信号细分技术的基本原理 |
| 2.1 光栅测量技术 |
| 2.1.1 光栅信号的形成 |
| 2.1.2 光栅信号的测量原理 |
| 2.2 光栅信号细分技术 |
| 2.2.1 四细分辨向技术 |
| 2.2.2 电阻链移相细分 |
| 2.2.3 幅值分割电子细分 |
| 2.2.4 载波调制细分 |
| 2.2.5 锁相倍频细分 |
| 2.3 细分方法的比较与选择 |
| 2.4 本章小结 |
| 第3章 幅值采样电子细分方法研究 |
| 3.1 幅值采样电子细分 |
| 3.2 粗细分及辨向 |
| 3.3 精细分原理 |
| 3.4 本章小结 |
| 第4章 幅值采样电子细分系统设计 |
| 4.1 幅值采样电子细分系统结构 |
| 4.2 光栅信号的前端处理 |
| 4.2.1 隔直电路 |
| 4.2.2 滤波电路 |
| 4.2.3 跟随电路 |
| 4.3 粗细分电路 |
| 4.3.1 过零比较电路 |
| 4.3.2 CPLD 电路 |
| 4.4 精细分电路 |
| 4.4.1 整流电路 |
| 4.4.2 放大电路 |
| 4.4.3 主控制器结构 |
| 4.5 细分系统软件设计 |
| 4.5.1 CPLD 引脚分配与锁定 |
| 4.5.2 细分系统软件流程图 |
| 4.6 本章小结 |
| 第5章 实验结果与误差分析 |
| 5.1 硬件系统实现 |
| 5.2 数据处理与误差分析 |
| 5.2.1 系统分辨力 |
| 5.2.2 系统重复性测量效果 |
| 5.2.3 系统示值误差分析 |
| 5.3 本章小结 |
| 结论 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 |
| 致谢 |
四、两路方波的软件四细分辨向（论文参考文献）
- [1]大长度比对测量装置关键技术的研究[D]. 王森. 西安理工大学, 2021(01)
- [2]火炮药室参数测量技术的研究[D]. 黄巧银. 长春理工大学, 2021(02)
- [3]基于正交衍射光栅的三维位移传感器的理论研究[D]. 刘保帅. 上海交通大学, 2018(01)
- [4]基于光栅莫尔条纹细分技术的精密测量系统的设计[D]. 高海霞. 哈尔滨理工大学, 2016(03)
- [5]基于单片机的转角测量系统设计[J]. 梁应选,杨明亮,何亚银,丁敏. 陕西理工学院学报(自然科学版), 2015(03)
- [6]基于FPGA的二维电控平移台系统的无线控制[D]. 杜刚. 中国科学技术大学, 2015(09)
- [7]基于FPGA光栅数据采集卡的设计[J]. 刘洋. 工具技术, 2015(02)
- [8]微动台位移检测及伺服控制系统的研究[J]. 吴年祥,陈小林. 成都工业学院学报, 2013(02)
- [9]三维光栅位移测量系统的硬件设计与实现[J]. 李深德,张向利,陶晗,韦礼凯. 传感器与微系统, 2013(05)
- [10]基于幅值采样技术的光栅信号细分的研究[D]. 李金艳. 哈尔滨理工大学, 2013(05)